文件编号：Q-RT-4-330-011 版次：01 页码：1 文件名称：量子点膜（Q-LCF）低温储存试验报告
1.试验目的
验证当前的工艺和材料所生产的 Q-LCF 储存在低温环境下，性能发生的变化情况。
验证当前的工艺和材料所生产的 Q-LCF 低温储存后，产品外观是否发生变化。
2.试验要求
2.1产品要求
试验的产品必须按照正常的生产工艺完成，红色、绿色量子点材料，胶水，阻隔膜均用生产物料中合格品；
试验的产品均要求外观合格，无明显穿透的或过大的气泡，粘接良好无剥离。
产品尺寸：70x70x0.090mm
2.2环境要求
老化所用的低温设备必须正常工作，温度波动不得超过-40±3℃；
测试环境要求温度20~30℃，湿度30~70%RH。
3.试验方法
将外观和性能均合格的产品静置在低温箱内，内部环境温度调整在-40℃，允许±3℃的波动，老化时间持续 1000小时，每隔 240小时测试一次产品光学性能，并记录外观变化情况。
产品测试选用远方光电参数测试平台（1.5m 积分球+haas2000）。每次测试点选择同一位置，记录测试系统的电参数和产品的光参数。
4.参考文件
《量子点器件信赖性试验规范》